LCR测试仪IM3536进行高阻抗或电路网中的元件测量方法

进行高阻抗元件的测量时

高阻抗元件（比如100 kΩ以上的电阻等）易受外部感应噪音等的影响，测量值有时可能会不稳定。

如果此时在连接到GUARD端子上的金属板上进行测量（隔离处理），则可进行稳定的测量。

在金属板表面进行测量时，请用树脂薄膜等进行绝缘，以免端子类发生短路。

注意：

由于开路补偿属于高阻抗测量，因此请务必进行隔离处理。如果未进行隔离处理，补偿值则会变得不稳定，从而对测量值产生影响。

进行电路网中的元件测量时

如果未进行隔离处理，则无法测量电路网中的元件。

在图中，测量电阻R2的电阻值时，即使将探头抵在电阻R2的两端，流过电阻R2的电流与通过电阻R3、R4流过的电流也会被加在一起，测量左面所示的并联电阻。

如图所示，如果使用GUARD端子，电流则不会流过电阻R4，流过电阻R3的电流被GUARD端子吸收，此时可测量电阻R2的

电阻值。

• 但即使是在R2>>R3并且R3≒0等情况下，测试精度也不会提高。

• 不能对如图所示的电阻-电阻等相同元件的并联电路以及线圈-电容器的并联电路的各元件进行分离测量。